無(wú)損檢測(cè)技術(shù)通過(guò)多種創(chuàng)新方法，提供了對(duì)材料和產(chǎn)品缺陷的無(wú)損檢測(cè)能力。這些方法不僅提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確性和效率，還為工業(yè)生產(chǎn)中的質(zhì)量控制提供了可靠的保障。

    1.磁性無(wú)損檢測(cè)

    磁性無(wú)損檢測(cè)依賴于磁場(chǎng)記錄、缺陷散射或被測(cè)對(duì)象的磁性。這種技術(shù)主要用于檢測(cè)由鐵磁材料制成的物體。鐵磁材料的磁化和再磁化過(guò)程伴隨著磁滯現(xiàn)象。通過(guò)測(cè)量磁化過(guò)程和磁滯回線的參數(shù)，可以推斷出產(chǎn)品化學(xué)成分、結(jié)構(gòu)、不連續(xù)性等性能的變化，從而發(fā)現(xiàn)與指定參數(shù)的偏差。

    2.聲學(xué)無(wú)損檢測(cè)

    聲學(xué)無(wú)損檢測(cè)基于對(duì)被測(cè)物體中激發(fā)的彈性振動(dòng)參數(shù)的記錄。該方法適用于所有傳導(dǎo)聲波良好的材料，包括金屬、塑料、陶瓷和混凝土。除了超聲波法，還有聲發(fā)射法、控制振動(dòng)法等。

    3.毛細(xì)管檢測(cè)（滲透檢測(cè)）

    毛細(xì)管檢測(cè)利用指示劑液體對(duì)表面缺陷腔的毛細(xì)管滲透和指示劑圖案（彩色、發(fā)光、對(duì)比）的配準(zhǔn)。該方法用于檢測(cè)肉眼看不見(jiàn)的表面缺陷。

    4.光學(xué)無(wú)損檢測(cè)

    光學(xué)無(wú)損檢測(cè)基于光輻射與被測(cè)對(duì)象的相互作用。通過(guò)使用放大鏡、顯微鏡、內(nèi)窺鏡、投影裝置等儀器，可以顯著擴(kuò)展光學(xué)方法的能力。大多數(shù)情況下，光學(xué)方法廣泛用于控制透明物體，發(fā)現(xiàn)宏觀和微觀缺陷、結(jié)構(gòu)不均勻性、內(nèi)應(yīng)力等。柔性光導(dǎo)、激光器、光學(xué)全息術(shù)、電視設(shè)備的使用進(jìn)一步擴(kuò)大了其應(yīng)用領(lǐng)域，提高了測(cè)量的準(zhǔn)確性。

    5.輻射無(wú)損檢測(cè)

    輻射無(wú)損檢測(cè)基于穿透性電離輻射與受控對(duì)象的相互作用。根據(jù)電離輻射的性質(zhì)，控制類(lèi)型分為X射線、γ射線、β射線（電子通量）、中子控制方法。該方法適用于任何材料。輻射控制的主要方法是通道法，使用背散射光子輻射進(jìn)行X射線控制并單向進(jìn)入物體有很好的效果。

    6.無(wú)線電波無(wú)損檢測(cè)

    無(wú)線電波無(wú)損檢測(cè)基于對(duì)與受控對(duì)象相互作用的電磁振蕩參數(shù)變化的記錄。通常使用長(zhǎng)度為1至100毫米的超高頻（微波）波，適用于由電介質(zhì)（塑料、陶瓷、玻璃纖維）、磁電介質(zhì)（鐵氧體）、半導(dǎo)體、薄壁金屬物體等制成的產(chǎn)品。

    7.渦流無(wú)損檢測(cè)

    渦流無(wú)損檢測(cè)基于線圈自身電磁場(chǎng)與該線圈在被監(jiān)測(cè)對(duì)象中感應(yīng)的渦流電磁場(chǎng)相互作用的變化記錄。物體中渦流的強(qiáng)度和分布取決于其幾何尺寸、材料的電和磁特性、材料中是否存在導(dǎo)通性違規(guī)以及傳感器和物體的相對(duì)位置。該方法用于檢測(cè)表面和近表面的連續(xù)性缺陷，僅控制導(dǎo)電材料的幾何尺寸、化學(xué)成分、結(jié)構(gòu)、內(nèi)應(yīng)力。

    8.熱無(wú)損檢測(cè)

    熱無(wú)損檢測(cè)基于對(duì)被測(cè)對(duì)象的熱場(chǎng)、溫度或熱對(duì)比度的記錄。它適用于由任何材料制成的物體。非接觸式觀察、溫度場(chǎng)和熱流記錄的最有效方法是使用掃描熱像儀。

    9.泄漏檢測(cè)

    泄漏檢測(cè)僅用于檢測(cè)零件和隔板中的缺陷。滲透物質(zhì)在壓差或毛細(xì)管力的影響下進(jìn)入缺陷腔。

    10.電氣無(wú)損檢測(cè)

    電氣無(wú)損檢測(cè)基于被測(cè)對(duì)象的電場(chǎng)和電氣參數(shù)的記錄（適當(dāng)?shù)碾姎夥椒ǎ┗蛴捎谕獠孔饔枚谑芸貙?duì)象中產(chǎn)生的場(chǎng)（熱電和摩擦電方法）。主要的信息參數(shù)是電容或電位。此外，電容方法用于控制電介質(zhì)或半導(dǎo)體材料，電勢(shì)法用于控制導(dǎo)體，以確定導(dǎo)體表面附近的不連續(xù)深度。